武汉颐光取得椭偏仪全局参数校准方法及校准系统专利

  • 2024-11-01 18:09:51   
  • 李明朝
  • 快讯

　　11月1日消息，国家知识产权局信息显示，武汉颐光科技有限公司取得一项名为“一种椭偏仪全局参数校准方法及校准系统”的专利，授权公告号CN 115728245 B，申请日期为2022年10月。

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